X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺欠的一種無(wú)損檢測(cè)方法。X射線的波長(zhǎng)很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過(guò)程中有衰減，能使膠片感光。X射線可以檢查金屬與非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷。例如焊縫中的氣孔、夾渣。未焊透等體積性缺陷。

      X射線是從X射線管中產(chǎn)生的，X射線管是一種兩極電子管。將陰極燈絲通電使之白熾電子就在真空中放出，如果兩極之間加幾十千伏以至兒百千伏的電壓(叫做管電壓)時(shí)，電子就從陰極向陽(yáng)極方向加速飛行、獲得很大的動(dòng)能，當(dāng)這些高速電子撞擊陽(yáng)極時(shí)。與陽(yáng)極金屬原子的核外庫(kù)侖場(chǎng)作用，放出X射線。

      當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同，而引起射線透過(guò)工件后強(qiáng)度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過(guò)暗室處理后獲得缺欠影像，再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級(jí)別。

       沈陽(yáng)宇時(shí)檢測(cè)設(shè)備有限公司研發(fā)的產(chǎn)品包括：X射線探傷機(jī)、管道爬行器、波紋陶瓷管等， 宇時(shí)檢測(cè)一直追求“信譽(yù)首位、榮譽(yù)至上”的原則，把“誠(chéng)信”當(dāng)成企業(yè)的金字招牌和傳家寶，三十五年的成長(zhǎng)始終秉承“客戶導(dǎo)向”的經(jīng)營(yíng)理念，始終把“科技創(chuàng)新、工藝領(lǐng)先、制造精良、服務(wù)周到”的企業(yè)發(fā)展成果與用戶共享。